AN 835: PAM4信令基础

ID 683852
日期 3/12/2019
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5.1. OIF_Stressed

COM Analysis是在使用Intel的Advanced Link Analyzer的Channel Viewer进行测试时的通道上运行的。COM结果如下:

  • 短封装长度,COM (test 1) = 3.4139 dB,通过
  • 长封装长度,COM (test 2) = 2.7932 dB,略有失败

链路仿真在典型TX和RX封装(~22.6 mm)上运行。此通道仅以COM ~3 dB通过。

图 27. OIF_Stressed通道特征:Test 1和Test 2的COM分析结果