仅对英特尔可见 — GUID: wut1513102845088
Ixiasoft
5.1. OIF_Stressed
COM Analysis是在使用Intel的Advanced Link Analyzer的Channel Viewer进行测试时的通道上运行的。COM结果如下:
- 短封装长度,COM (test 1) = 3.4139 dB,通过
- 长封装长度,COM (test 2) = 2.7932 dB,略有失败
链路仿真在典型TX和RX封装(~22.6 mm)上运行。此通道仅以COM ~3 dB通过。
图 27. OIF_Stressed通道特征:Test 1和Test 2的COM分析结果
