仅对英特尔可见 — GUID: ula1660091257877
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2.4.5.1. ebfm_barwr处理过程
2.4.5.2. ebfm_barwr_imm处理过程
2.4.5.3. ebfm_barrd_wait处理过程
2.4.5.4. ebfm_barrd_nowt处理过程
2.4.5.5. ebfm_cfgwr_imm_wait处理过程
2.4.5.6. ebfm_cfgwr_imm_nowt处理过程
2.4.5.7. ebfm_cfgrd_wait处理过程
2.4.5.8. ebfm_cfgrd_nowt处理过程
2.4.5.9. BFM配置处理过程
2.4.5.10. BFM共享存储器访问过程
2.4.5.11. BFM日志和消息过程
2.4.5.12. Verilog HDL格式化函数
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2.3.2.4. SR-IOV设计实例测试台
下图显示SR-PIO设计实例仿真设计层次。SR-PIO设计实例的测试以apps_type_hwtcl参数定义。在该参数值下运行的测试被定义为ebfm_cfg_rp_ep_rootport,find_mem_bar和downstream_loop。
图 25. SR-IOV设计实例仿真设计层次
在测试中的器件

测试驱动器模块(Test Driver Module)

SR-IOV测试台支持最多两个Physical Functions (PFs)和每PF 16个 Virtual Functions (VFs)。
测试平台从链路训练开始,然后访问R-Tile PCIe IP的配置空间进行枚举。之后,执行以下步骤:
- 向PF发送存储器写请求,然后发送存储器读请求以读回相同数据从而进行比较。如果读数据与写数据相匹配,则测试通过。
- 向VF发送存储器写请求,然后发送存储器读请求以读回数据从而进行比较。如果读数据与写数据相匹配,则测试通过。对每个VF重复此测试。