仅对英特尔可见 — GUID: tal1614205949934
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2.4.5.1. ebfm_barwr处理过程
2.4.5.2. ebfm_barwr_imm处理过程
2.4.5.3. ebfm_barrd_wait处理过程
2.4.5.4. ebfm_barrd_nowt处理过程
2.4.5.5. ebfm_cfgwr_imm_wait处理过程
2.4.5.6. ebfm_cfgwr_imm_nowt处理过程
2.4.5.7. ebfm_cfgrd_wait处理过程
2.4.5.8. ebfm_cfgrd_nowt处理过程
2.4.5.9. BFM配置处理过程
2.4.5.10. BFM共享存储器访问过程
2.4.5.11. BFM日志和消息过程
2.4.5.12. Verilog HDL格式化函数
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2.3.2.3. PIO设计实例测试台
下图显示PIO设计实例仿真设计层次。PIO设计实例的测试以将apps_type_hwtcl参数设置为3来定义。在该参数值下运行的测试被定义为ebfm_cfg_rp_ep_rootport,find_mem_bar和downstream_loop。
图 24. PIO设计实例仿真设计层次

测试台从链路训练开始,然后访问用于枚举的IP的配置空间。一个名为downstream_loop(在Root Port PCIe BFM altpcietb_bfm_rp_gen5_x16.sv中定义)的任务,随后执行PCIe链路测试。该测试由以下步骤组成:
- 发布存储器写命令将数据的单个双字写入Endpoint背后的片上存储器。
- 发布存储器读命令从片上存储器读回数据。
- 比较读数据和写数据。如果它们相匹配,则测试将其视为Pass(通过)。
- 重复步骤1、2和3直到完成10次迭代。
首个存储器写任务发生在219 us左右。随后,在PCIe的R-tile Hard IP的 Avalon® -ST RX接口处存储器读取。 Avalon® -ST TX接口处的存储器读请求之后不久Completion TLP就出现。
注: 在2x8设计实例中,仅在Port 0上仿真存储器读和存储器写事务。